更新時間：2024-03-14
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | 中國計量科學研究院 | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 | 1片 | 11.10nm |
本標準物質(zhì)主要用于薄膜厚度測量和表面化學分析（深度剖析）儀器設(shè)備的檢定/校準、分析方法的確認與評價、技術(shù)仲裁測量以及測量質(zhì)量控制等。一、 樣品制備本標準物質(zhì)系通過原子層沉積技術(shù)在單晶硅基底上生長二氧化硅納米薄膜成批制備而成，切割形成正方形片狀樣品（10mm×10mm×0.7mm）。二、 溯源性及定值方法本標準物質(zhì)采用兩種的不同原理方法（掠入射 X 射線反射測量和橢偏測量）進行定值，以兩種定值方法測量結(jié)果的總平均值作為標準值。通過使用滿足計量學特性要求的測量方法和計量器具，保證標準物質(zhì)量值的溯源性。
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